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教師資料查詢 | 教師:蔡宗儒

# 學年期 類別 標題
271 106-1 會議論文 Parameter estimation for Burr type XII distribution with differential evolution approach based on progressively type I interval-censored samples
272 106-1 會議論文 Markov chain Monte Carlo Approach for Burr type XII distribution
273 106-2 學術演講 Profile Monitoring and Its Applications
274 106-2 教學計畫表 統計一碩士班:實驗設計 TLSXM1S0408 0A
275 106-2 教學計畫表 統計一碩士班:統計計算 TLSXM1M0883 0A
276 106-2 教學計畫表 統計二:高等微積分 TLSXB2S0210 0B
277 106-2 教學計畫表 運管一:統計學 TLTXB1M0517 2A
278 106-1 出席學術性會議 2017(第九屆)國際數據挖掘與應用統計研究會
279 106-1 學術演講 我很醜但是我很溫柔—漫談從統計假設檢定圖形化到品質管制的應用(Some Applications on Statistics)
280 106-1 教學計畫表 統計一碩士班:品質管制 TLSXM1M0202 0A
281 106-1 教學計畫表 運管一:統計學 TLTXB1M0517 1A
282 106-1 教學計畫表 統計二:管理數學 TLSXB2M0404 0B
283 106-1 參與學術服務 統計學名詞審議會審議委員(Statistics Terms Translation Committee Member)
284 106-1 出席學術性會議 12th International Conference on Innovative Computing, Information and Control
285 106-1 出席學術性會議 23rd ISSAT International Conference on Reliability and Quality in Design
286 106-1 期刊論文 An innovative sampling scheme for resubmitted lots by attributes
287 105-2 期刊論文 MEWMA control chart and process capability indices for simple linear profiles with within-profile autocorrelation
288 107-1 研發處: 研究計畫 (國科會) 雙零件供應商下複雜區間設限資料之可靠性分析(2/2)
289 106-1 研發處: 研究計畫 (國科會) 雙零件供應商下複雜區間設限資料之可靠性分析(1/2)
290 105-1 研究獎勵 An integrated approach for the optimization of tolerance design and quality cost
291 105-1 研究獎勵 Economic design of the life Test with a warranty policy
292 105-1 研究獎勵 Real-time detection of wave profile changes
293 105-1 研究獎勵 Economical sampling plans with warranty based on truncated data from Burr type XII distribution
294 105-1 研究獎勵 Reliability inference on composite dynamic systems based on Burr type-XII distribution
295 105-2 學術演講 學術論文撰寫心得分享(How to Write Academic Papers)
296 105-2 學術演講 Statistical Methods for Profile Monitoring
297 105-2 赴校外學術交流 統計專案移地教學(Learning Away from Home Program in China)
298 105-2 出席學術性會議 第13屆海峽兩岸應用統計學術研討會
299 105-1 出席學術性會議 中國統計學社105年年會暨學術研討會
300 105-2 學術演講 Optimal Two-Variable Accelerated Degradation Test Plan for Gamma Degradation Processes