| 271 |
101-2
|
教學計畫表
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電機系電資三：硬體描述語言 TETAB3E2357 0A
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| 272 |
101-2
|
教學計畫表
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電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 2R
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| 273 |
101-2
|
教學計畫表
|
電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 2A
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| 274 |
101-2
|
教學計畫表
|
電機一電路組：超大型積體電路測試與可測試設計 TETBM1E2590 0A
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| 275 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機系電資四：電子實驗 TETAB4E1568 0B
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| 276 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 1R
|
| 277 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機進學班四：硬體描述語言 TETXE4E2357 0A
|
| 278 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 1A
|
| 279 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機系電資一：大學學習 TETAB1T0863 0A
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| 280 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 1R
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| 281 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機系電資四：演算法 TETAB4E1111 0A
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| 282 |
102-1
|
教學計畫表
|
電機一博士班：3D系統晶片測試特論 TETXD1E3316 0A
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| 283 |
101-1
|
會議論文
|
Multimode ATPG for DVFS Designs
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| 284 |
101-1
|
會議論文
|
An Efficient Test Data Compression Scheme Using Selection Expansion
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| 285 |
101-1
|
會議論文
|
Optimal Unknown Bit Filtering for Test Response Masking
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| 286 |
100-1
|
會議論文
|
Multiple Inputs Selector for High-Speed Masking
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| 287 |
101-1
|
研究獎勵
|
Power-aware compression scheme for multiple scan-chain
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| 288 |
100-1
|
期刊論文
|
Multimode ATPG for DVFS Designs
|
| 289 |
100-2
|
期刊論文
|
Test Slice Difference Technique for Low-Transition Test Data Compression
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| 290 |
100-1
|
專利
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積體電路燒錄測試裝置
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| 291 |
100-1
|
專利
|
一種具有缺陷接地結構的共模濾波器
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| 292 |
101-1
|
期刊論文
|
Thermal-Aware Test Schedule and TAM Co-Optimization for Three-Dimensional IC
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| 293 |
100-2
|
教學計畫表
|
電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 2R
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| 294 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 1A
|
| 295 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機進學班四：硬體描述語言 TETXE4E2357 0A
|
| 296 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機一博士班：3D系統晶片測試特論 TETXD1E3316 0A
|
| 297 |
100-2
|
教學計畫表
|
電機一電路組：超大型積體電路測試與可測試設計 TETBM1E2590 0A
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| 298 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 1R
|
| 299 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 1R
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| 300 |
100-2
|
教學計畫表
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電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 2A
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