| 191 |
106-1
|
參與學術服務
|
106年度國家度量衡標準實驗室運作與發展計畫期中審查委員
|
| 192 |
106-1
|
參與學術服務
|
國家標準實驗室新質量標準計畫審查委員
|
| 193 |
107-2
|
學術演講
|
講題：光電量測在工業4.0中的機會與挑戰
|
| 194 |
105-1
|
學術演講
|
講題：位移感測器
|
| 195 |
102-1
|
參與學術服務
|
Review articles from NEMS
|
| 196 |
101-2
|
參與學術服務
|
Review an article from JM3
|
| 197 |
102-1
|
參與學術服務
|
Review an article from JJAP
|
| 198 |
101-2
|
參與學術服務
|
Review an article from JASE
|
| 199 |
102-1
|
參與學術服務
|
Review an article from CTAM
|
| 200 |
102-1
|
參與學術服務
|
Review articles from CSME
|
| 201 |
101-2
|
參與學術服務
|
Review an article from Applied Optics
|
| 202 |
101-1
|
參與學術服務
|
Review an article from JASE
|
| 203 |
100-2
|
參與學術服務
|
Review an article from ICETI 2012
|
| 204 |
101-1
|
參與學術服務
|
Review articles from CSME
|
| 205 |
99-1
|
參與學術服務
|
Review articles from WCICA
|
| 206 |
100-1
|
參與學術服務
|
Review an article from SICE
|
| 207 |
99-2
|
參與學術服務
|
Review an article from IWSSN
|
| 208 |
107-1
|
教學研習
|
iClass學習平台導入工作坊(第三梯次)（2018-09-21 12:10:00 ~ 14:00:00）
|
| 209 |
107-2
|
教學計畫表
|
機械系精密四：精密機械實驗（四） TEBBB4E3347 0B
|
| 210 |
107-2
|
教學計畫表
|
機械一碩士班：微處理機 TEBXM1E0629 0A
|
| 181 |
101-2
|
會議論文
|
Displacement measurement based on wavelength modulation grating heterodyne interferometry
|
| 182 |
97-1
|
會議論文
|
Heterodyne displacement measurement with volume hologram as reflection type optical ruler
|
| 183 |
97-1
|
會議論文
|
Subnanometer displacement measurement using common-path grating interferometry
|
| 184 |
100-2
|
會議論文
|
Optical touch trigger probing sensor for micro CMMs
|
| 185 |
107-1
|
參與學術服務
|
107年度教師成長社群
|
| 186 |
106-2
|
參與學術服務
|
Patent review (國家標準實驗室委託)
|
| 187 |
107-2
|
參與學術服務
|
Review an article from EMMA
|
| 188 |
106-2
|
專利
|
光學裝置
|
| 189 |
106-1
|
參與學術服務
|
107年度經濟部能源專案計畫審查委員
|
| 190 |
105-1
|
參與學術服務
|
105年度國家度量衡標準實驗室運作與發展計畫期末審查委員
|
GoogleAnalytics