| 361 |
101-1
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教學計畫表
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電機一博士班:3D系統晶片測試特論 TETXD1E3316 0A
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| 362 |
101-1
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教學計畫表
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電機進學班四:硬體描述語言 TETXE4E2357 0A
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| 363 |
101-1
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教學計畫表
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電機系電機一:資訊概論 TETCB1E1034 1A
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| 364 |
101-1
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教學計畫表
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電機系電通一:資訊概論 TETBB1E1034 1R
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| 365 |
101-1
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教學計畫表
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電機系電資一:資訊概論 TETAB1E1034 1R
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| 366 |
92-2
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期刊論文
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以Layout為基礎的高效率多重掃描鍊最佳化
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| 367 |
100-2
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教學計畫表
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電機系電機三:微處理機實驗 TETCB3E1565 0B
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| 368 |
100-2
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教學計畫表
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電機一電路組:超大型積體電路測試與可測試設計 TETBM1E2590 0A
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| 369 |
100-2
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教學計畫表
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電機系電資三:硬體描述語言 TETAB3E2357 0A
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| 370 |
100-2
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教學計畫表
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電機系電機一:資訊概論 TETCB1E1034 2A
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| 371 |
100-2
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教學計畫表
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電機系電通一:資訊概論 TETBB1E1034 2R
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| 372 |
100-2
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教學計畫表
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電機系電資一:資訊概論 TETAB1E1034 2R
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| 373 |
97-1
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會議論文
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Test Slice Difference Technique for Low Power Testing
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| 374 |
99-1
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會議論文
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An Filling Methodology for Efficient Compaction of Test Responses with Unknowns
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| 375 |
96-2
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會議論文
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An Efficient Test-Data Compaction for Low Power VLSI Testing
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| 376 |
97-1
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會議論文
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An Efficient Scheduling Algorithm for Testing SOC with Multi-Frequency TAM
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| 377 |
96-1
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會議論文
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A Novel High-Speed SOC Test Scheme Using Virtual TAMs
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| 378 |
98-1
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會議論文
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A Novel Gated Scan-Cell Scheme for Low Capture Power (LCP) in At-Speed Testing
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| 379 |
97-2
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會議論文
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A Novel Constructive Data Compression Scheme for Shifting-in Power Reduction with Multiple Scan-chains Design
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| 380 |
97-2
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會議論文
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A Novel Clock Gating Scheme of Scan Chains for Capture Power Reduction
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| 381 |
96-2
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會議論文
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A New Double-edge Triggered Design with Low-power consumption and High-speed
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| 382 |
95-2
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會議論文
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A New Algorithm for Latch-Up Check Based on Look-Up Table
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| 383 |
92-1
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會議論文
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A Datapath-Based Debugging Mechanism for RTL Description
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| 384 |
100-1
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研發處: 研究計畫 (國科會)
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低捕捉功率快速掃描測試架構之研究
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| 385 |
100-1
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教學計畫表
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電機進學班四:硬體描述語言 TETXE4E2357 0A
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| 386 |
100-1
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教學計畫表
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電機一博士班:DIP設計概論 TETXD1E2382 0A
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| 387 |
100-1
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教學計畫表
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電機系電機一:資訊概論 TETCB1E1034 1A
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| 388 |
100-1
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教學計畫表
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電機系電通一:資訊概論 TETBB1E1034 1R
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| 389 |
100-1
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教學計畫表
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電機系電資一:資訊概論 TETAB1E1034 1R
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| 390 |
98-1
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研究報告
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針對低功耗系統晶片考量之測試樣本壓縮技術之探討
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