An Efficient Test-Data Compaction for Low Power VLSI Testing
學年 96
學期 2
發表日期 2008-05-18
作品名稱 An Efficient Test-Data Compaction for Low Power VLSI Testing
作品名稱(其他語言)
著者 饒建奇
作品所屬單位 淡江大學電機工程學系
出版者 Iowa State University
會議名稱
會議地點
摘要
關鍵字
語言
收錄於
會議性質 國際
校內研討會地點
研討會時間
通訊作者
國別
公開徵稿
出版型式
出處 Proc. of IEEE Electro/Information Technology Conference (EIT), Ames, Iowa, U.S.A.
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機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/70310 )

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