| 241 |
103-1
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研究獎勵
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Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect
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| 242 |
99-1
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會議論文
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The AB-Filling Methodology for Power-aware At-Speed Scan Testing
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| 243 |
103-2
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教學計畫表
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電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 2A
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| 244 |
103-2
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教學計畫表
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電機進學班一：資訊概論 TETXE1E1034 2A
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| 245 |
103-2
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教學計畫表
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電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 2R
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| 246 |
103-2
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教學計畫表
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電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 2R
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| 247 |
103-1
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教學計畫表
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電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 1R
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| 248 |
103-1
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教學計畫表
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電機進學班一：資訊概論 TETXE1E1034 1A
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| 249 |
102-2
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教學計畫表
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電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 2R
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| 250 |
103-1
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教學計畫表
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電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 1A
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| 251 |
102-2
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教學計畫表
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電機系電資三：硬體描述語言 TETAB3E2357 0A
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| 252 |
102-2
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教學計畫表
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電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 2R
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| 253 |
102-2
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教學計畫表
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電機進學班一：資訊概論 TETXE1E1034 2A
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| 254 |
103-1
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教學計畫表
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電機進學班四：硬體描述語言 TETXE4E2357 0A
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| 255 |
102-2
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教學計畫表
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電機系電機三：微處理機實驗 TETCB3E1565 0B
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| 256 |
102-2
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教學計畫表
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電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 2A
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| 257 |
103-1
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教學計畫表
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電機系電資四：演算法 TETAB4E1111 0A
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| 258 |
102-2
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教學計畫表
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電機一電路組：超大型積體電路測試與可測試設計 TETBM1E2590 0A
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| 259 |
103-1
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教學計畫表
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電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 1R
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| 260 |
103-1
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教學計畫表
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電機系電資一：基礎電機實驗 TETAB1E1562 1A
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| 261 |
103-1
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教學計畫表
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電機系電資四：電工實驗 TETAB4E0692 0B
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| 262 |
103-1
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論文指導
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電機一機器人 劉昕宇
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| 263 |
103-1
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論文指導
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電機一通訊組 鍾雨
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| 264 |
102-1
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研究獎勵
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Test Slice Difference Technique For Low-Transition Test Data Compression
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| 265 |
96-2
|
會議論文
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A New Low Power, High Speed Double-Edge Triggered Flip-Flop
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| 266 |
93-1
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會議論文
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An Efficient Low-Overhead Policy for Constructing Multiple Scan-Chains
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| 267 |
91-1
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會議論文
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A Novel BIST Response Analyzer Based on TLS
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| 268 |
92-1
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會議論文
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A Core-Based Test Methodology for Fast Multipliers
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| 269 |
92-1
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會議論文
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Pseudo-Exhaustively Testing VLSI Circuits Using Enhanced Tree-Structured Scan Chains
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| 270 |
92-1
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會議論文
|
A Datapath-Based Debugging Mechanism for RTL Description
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