| Test sequence generator | |
|---|---|
| 學年 | 75 |
| 學期 | 1 |
| 發表日期 | 1986-08-27 |
| 作品名稱 | Test sequence generator |
| 作品名稱(其他語言) | |
| 著者 | Ou, Hsien-chang ; Fang, Wu-shiung ; 廖賀田; Liaw, Heh-tyan |
| 作品所屬單位 | 淡江大學資訊管理學系 |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | ROC electron devices and materials symposium |
| 會議地點 | Tainan, Taiwan |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | 國內 |
| 校內研討會地點 | |
| 研討會時間 | 19860827~19860827 |
| 通訊作者 | |
| 國別 | TWN |
| 公開徵稿 | Y |
| 出版型式 | 紙本 |
| 出處 | ROC electron devices and materials symposium, pp.84-89 |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/68463 ) |
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