Replacing Batch Normalization with Memory-Based Affine Transformation for Test-Time Adaptation
學年 114
學期 1
出版（發表）日期 2025-10-30
作品名稱 Replacing Batch Normalization with Memory-Based Affine Transformation for Test-Time Adaptation
作品名稱（其他語言）
著者 Jih Pin Yeh; Joe-Mei Feng; Hwei Jen Lin; Yoshimasa Tokuyama
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數 Special issue on Advances in Data Security: Challenges, Technologies, and Applications, Electronics 14(21), 4251
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收錄於 SCI
產學合作
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