Replacing Batch Normalization with Memory-Based Affine Transformation for Test-Time Adaptation
學年 114
學期 1
出版（發表）日期 2025-10-30
作品名稱 Replacing Batch Normalization with Memory-Based Affine Transformation for Test-Time Adaptation
作品名稱（其他語言）
著者 Jih Pin Yeh, Joe-Mei Feng, Hwei Jen Lin and Yoshimasa Tokuyama
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數 Electronics 2025, 14(21), 4251
摘要
關鍵字
語言 zh_TW
ISSN
期刊性質 國內
收錄於
產學合作
通訊作者
審稿制度 0
國別 TWN
公開徵稿
出版型式 ,電子版