| Imaging of Rough Surfaces by Near-Field Measurement | |
|---|---|
| 學年 | 109 |
| 學期 | 2 |
| 出版(發表)日期 | 2021-07-06 |
| 作品名稱 | Imaging of Rough Surfaces by Near-Field Measurement |
| 作品名稱(其他語言) | |
| 著者 | Wei Chien; Chien-Ching Chiu; Po-Hsiang Chen; Hao Jiang; Shun-Jie Chan |
| 單位 | |
| 出版者 | |
| 著錄名稱、卷期、頁數 | Sensors and Materials 33(7), p. 2333-2344 |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | microwave imaging; near-field measurement; rough surfaces; self-adaptive dynamic differential evolution (SADDE) |
| 語言 | en_US |
| ISSN | |
| 期刊性質 | 國外 |
| 收錄於 | SCI EI |
| 產學合作 | |
| 通訊作者 | |
| 審稿制度 | 是 |
| 國別 | JPN |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | ,電子版,紙本 |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/128546 ) |