Assessment of the Degradation Mechanisms of Cu Electrodes during the CO2 Reduction Reaction
學年 111
學期 2
出版（發表）日期 2023-06-15
作品名稱 Assessment of the Degradation Mechanisms of Cu Electrodes during the CO2 Reduction Reaction
作品名稱（其他語言）
著者 Rik V. Mom, Luis-Ernesto Sandoval-Diaz, Dunfeng Gao, Cheng-Hao Chuang, Emilia A. Carbonio, Travis E. Jones, Rosa Arrigo, Danail Ivanov, Michael Hävecker, Beatriz Roldan Cuenya, Robert Schlögl, Thomas Lunkenbein, Axel Knop-Gericke, and Juan-Jesús Velasco-Vélez
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數 ACS Applied Materials & Interface, 15, 30052
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收錄於 SCI
產學合作
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