A Scan-Based Lower-Power Testing Architecture for Modern Circuits
學年 110
學期 1
發表日期 2021-11-16
作品名稱 A Scan-Based Lower-Power Testing Architecture for Modern Circuits
作品名稱（其他語言）
著者 Jiann-Chyi Rau; Jia-Xiang Wang
作品所屬單位
出版者
會議名稱 ISPACS 2021
會議地點 花蓮縣，台灣
摘要
關鍵字
語言 zh_TW
收錄於
會議性質 國際
校內研討會地點 無
研討會時間 20211116~20211119
通訊作者
國別 TWN
公開徵稿
出版型式
出處
相關連結

機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/122441 )