利用專利計量結構性方法探討薄膜太陽能光電公司之技術能力、技術發展與知識流
學年 108
學期 1
畢業日期 2020-01-18
著者 陳雪珍 CHEN, HSUEN-CHEN
中文題名 利用專利計量結構性方法探討薄膜太陽能光電公司之技術能力、技術發展與知識流
英文題名 A Structured Approach to Explore Technological Competency, Technology Development, and Knowledge Flow through Thin-Film Photovoltaic Companies by Patentometrics
畢業學校系所 淡江大學管理科學研究所
學位 D
指導教授 張紘炬
頁數 145
備註
語文 C