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標題:Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples.
學年
學期
出版(發表)日期2019/05/08
作品名稱Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples.
作品名稱(其他語言)
著者Chien-Tai Lin, Ying Chen Lee, and N. Balakrishnan
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數Computational Statistics 34(2), p.803–818
摘要We develop an user-interface package mTEXO in the Maplet application for testing exponential upper and/or lower outliers. The distributions of some well-known test statistics for exponential outliers in the literature can be easily evaluated using mTEXO, saving considerable computational time performing numerical integrations and combinatorial algebra necessary in the traditional approach.
關鍵字Critical value;Discordancy test;Exponential distribution;Spacings;User interface
語言英文
ISSN1613-9658
期刊性質國外
收錄於SCI;
產學合作
通訊作者
審稿制度
國別德國
公開徵稿
出版型式,電子版
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