| 標題：Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow |
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| 學年 | 108 |
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| 學期 | 2 |
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| 出版（發表）日期 | 2020/04/06 |
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| 作品名稱 | Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow |
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| 作品名稱（其他語言） | |
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| 著者 | Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang |
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| 單位 | |
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| 出版者 | |
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| 著錄名稱、卷期、頁數 | Biometrics 76(2), p.569-571 |
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| 摘要 | |
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| 關鍵字 | |
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| 語言 | 英文(美國) |
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| ISSN | |
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| 期刊性質 | 國外 |
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| 收錄於 | SCI; |
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| 產學合作 | |
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| 通訊作者 | |
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| 審稿制度 | 是 |
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| 國別 | 美國 |
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| 公開徵稿 | |
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| 出版型式 | ,電子版,紙本 |
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| 相關連結 | |
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| SDGs | |
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