| Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples | |
|---|---|
| 學年 | 106 |
| 學期 | 2 |
| 發表日期 | 2018-07-28 |
| 作品名稱 | Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Lin, Chien-tai; Lee, Ying-chen; Balakrishnan, Narayanaswamy |
| 作品所屬單位 | |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | 2018 Joint Statistical Meetings |
| 會議地點 | Vancouver, Canada |
| 摘要 | We develop an user-interface package mTEXO in the Maplet application for testing exponential upper and/or lower outliers. The distributions of some well-known test statistics for exponential outliers in the literature can be easily evaluated using mTEXO, saving considerable computational time performing numerical integrations and combinatorial algebra necessary in the traditional approach. |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en_US |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | 國際 |
| 校內研討會地點 | 無 |
| 研討會時間 | 20180728~20180802 |
| 通訊作者 | |
| 國別 | USA |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | |
| 出處 | |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/116645 ) |
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