| An Efficient Test Data Compression Scheme Using Selection Expansion | |
|---|---|
| 學年 | 101 |
| 學期 | 1 |
| 發表日期 | 2012-11-05 |
| 作品名稱 | An Efficient Test Data Compression Scheme Using Selection Expansion |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Rau, Jiann-chyi |
| 作品所屬單位 | 淡江大學電機工程學系 |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | Test Conference (ITC), 2012 IEEE International |
| 會議地點 | Anaheim, CA, USA |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | |
| 校內研討會地點 | |
| 研討會時間 | 20121105~20121108 |
| 通訊作者 | |
| 國別 | USA |
| 公開徵稿 | Y |
| 出版型式 | |
| 出處 | Test Conference (ITC), 2012 IEEE International, Poster 29 |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/91675 ) |
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