Test set compaction for combinational circuits
學年 81
學期 1
發表日期 1992-11-26
作品名稱 Test set compaction for combinational circuits
作品名稱（其他語言）
著者 張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang
作品所屬單位 淡江大學資訊管理學系
出版者 IEEE
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出版型式
出處 Proceedings of first Asian test symposium, Japan, pp.20-25
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