| Long-time repeated photo-degradation test of amorphous silicon hydrogen alloys | |
|---|---|
| 學年 | 100 |
| 學期 | 1 |
| 發表日期 | 1912-01-01 |
| 作品名稱 | Long-time repeated photo-degradation test of amorphous silicon hydrogen alloys |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Tzeng, W. J.; 曾文哲 ; Tsai, H. K. ; Lee, Si-chen |
| 作品所屬單位 | 淡江大學物理學系 |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | |
| 會議地點 | |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | 國內 |
| 校內研討會地點 | |
| 研討會時間 | 19120101~19120101 |
| 通訊作者 | |
| 國別 | |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | |
| 出處 | Proceedings of International Conference on Stability of Amorrphous Silicon Alloy Materials and Devices,AIP Conference Proceedings 157, New York,pp.62-69 |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/69638 ) |
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