教師資料查詢 | 類別: 研究報告 | 教師: 鄭伯昆TSENG POH-KUN (瀏覽個人網頁)

標題:(小角度入射)X光吸收光譜對Si-Co與Si/Co/al界面研究
學年82
學期1
出版(發表)日期1994/01/01
作品名稱(小角度入射)X光吸收光譜對Si-Co與Si/Co/al界面研究
作品名稱(其他語言)Study of Si-Co System and Si/Co/Al Interface Using XAFS and Glancing- Incidence EXAFS
著者彭維鋒; 鄭伯昆
單位淡江大學物理學系
描述計畫編號:NSC83-0208-M032-012;研究期間:199308~199412;研究經費:818,000
委託單位行政院國家科學委員會
摘要利用同步輻射光源,以X光吸收細微結構( XAFS)與小角度延伸X光吸收細微結構 (Glancing- incidence EXAFS)對Si-Co與Si-Co-Al系統研究.主要研究 課題是了解不同物質其界面間之電子能態結構 及界面間之原子結構.同時,我們欲在淡大物理 系建立一套小型分子磊晶(Mini molecular beam epitaxy)樣品長成系統.
關鍵字吸收光譜;界面;X光;Absorption Spectrum;Interface;X ray
語言
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