(小角度入射)X光吸收光譜對Si-Co與Si/Co/al界面研究
學年 82
學期 1
出版(發表)日期 1994-01-01
作品名稱 (小角度入射)X光吸收光譜對Si-Co與Si/Co/al界面研究
作品名稱(其他語言) Study of Si-Co System and Si/Co/Al Interface Using XAFS and Glancing- Incidence EXAFS
著者 彭維鋒; 鄭伯昆
單位 淡江大學物理學系
描述 計畫編號:NSC83-0208-M032-012 研究期間:199308~199412 研究經費:818,000
委託單位 行政院國家科學委員會
摘要 利用同步輻射光源,以X光吸收細微結構( XAFS)與小角度延伸X光吸收細微結構 (Glancing- incidence EXAFS)對Si-Co與Si-Co-Al系統研究.主要研究 課題是了解不同物質其界面間之電子能態結構 及界面間之原子結構.同時,我們欲在淡大物理 系建立一套小型分子磊晶(Mini molecular beam epitaxy)樣品長成系統.
關鍵字 吸收光譜;界面;X光;Absorption Spectrum;Interface;X ray
語言
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機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/5235 )

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