Calibration of the operating parameters for an HB5 STEM instrument
學年 74
學期 1
出版（發表）日期 1986-01-01
作品名稱 Calibration of the operating parameters for an HB5 STEM instrument
作品名稱（其他語言）
著者 林震安; Lin, J. A.; Cowley, John M.
單位 淡江大學物理學系
出版者 Elsevier
著錄名稱、卷期、頁數 Ultramicroscopy 19(1), pp.31-42
摘要 The interference fringes, or electron Ronchigrams, appearing in the shadow images of thin periodic objects may be used for calibration of the operating parameters of a scanning transmission electron microscopy (STEM) instrument. The determination of the spherical aberration constant is more simple and direct than by other means used in electron or light optics. The calibrated value for the spherical aberration may then be used in the determination of other primary aberrations.
關鍵字
語言 en
ISSN 0304-3991
期刊性質 國外
收錄於
產學合作
通訊作者
審稿制度 否
國別 NLD
公開徵稿
出版型式 ,紙本
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