研究獎勵
| 學年 | 103 |
|---|---|
| 學期 | 1 |
| 申請日期 | 2014-08-01 |
| 得獎人員 | 饒建奇 JIANN-CHYI RAU |
| 得獎論文名稱 | Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect |
| 得獎等級 | 0 |
| 所屬類別 | 0 |
| 出版者 | Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on 32(6), pp.971-975 |
| 研究獎勵類別 | 5 |
| 備註 | |
| 發表日期 | 2013-01-01 |