| 241 |
100-1
|
教學計畫表
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機電四：機電整合實驗 TEBXB4E2291 0A
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| 242 |
100-1
|
教學計畫表
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機電一碩士班：應用光學 TEBXM1S0684 0A
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| 243 |
100-1
|
教學計畫表
|
機電系光機二：機械畫 TEBAB2E0828 0A
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| 244 |
100-1
|
教學計畫表
|
機電三：金相材料實驗 TEBXB3E0231 0A
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| 245 |
100-1
|
教學計畫表
|
機電系精密二：機械畫 TEBBB2E0828 0A
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| 246 |
99-1
|
期刊論文
|
Nanoscale surface roughness characterization by full field polarized light-scattering
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| 247 |
99-1
|
期刊論文
|
Out-of-plane ellipsometry measurements of nanoparticles on surfaces for thin film coated wafer inspection
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| 248 |
100-1
|
研發處: 研究計畫 (國科會)
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奈米級表面粗糙度之三維偏振散射光量測技術
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| 249 |
98-1
|
研究報告
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次波長光學成像系統之設計與分析
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| 250 |
98-1
|
研究報告
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薄膜晶圓表面奈米金屬粒子之全場偏振散射光量測技術
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| 251 |
99-2
|
研發處: 研究計畫 (非國科會)
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次波長光學成像系統之設計與分析
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| 252 |
99-1
|
研發處: 研究計畫 (國科會)
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薄膜晶圓表面奈米金屬粒子之全場偏振散射光量測技術
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| 253 |
99-2
|
論文指導
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機電二碩士班 孫 振
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| 254 |
99-1
|
論文指導
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機電一碩士班 劉俊廷
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| 255 |
99-1
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論文指導
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機電一碩士班 王凱平
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| 256 |
99-1
|
教學計畫表
|
機電二：機械畫 TEBXB2E0828 0A
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| 257 |
99-2
|
教學計畫表
|
機電一博士班：書報討論（二） TEBXD1T0096 0A
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| 258 |
99-2
|
教學計畫表
|
機電三：能量與環境 TEBXB3E3119 0P
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| 259 |
99-1
|
教學計畫表
|
機電一博士班：應用光學 TEBXD1S0684 0A
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| 260 |
98-2
|
教學計畫表
|
機電三：畢業專題 TEBXB3T0994 1C
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| 261 |
99-2
|
教學計畫表
|
機電二：電腦繪圖 TEBXB2E0718 0A
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| 262 |
99-1
|
教學計畫表
|
機電二：機械畫 TEBXB2E0828 0B
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| 263 |
99-1
|
教學計畫表
|
機電三：金相材料實驗 TEBXB3E0231 0A
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| 264 |
98-2
|
教學計畫表
|
機電一博士班：應用奈米光學 TEBXD1E3149 0A
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| 265 |
99-2
|
教學計畫表
|
機電二博士班：書報討論（四） TEBXD2T1003 0A
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| 266 |
98-2
|
教學計畫表
|
機電三：能量與環境 TEBXB3E3119 0P
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| 267 |
98-2
|
教學計畫表
|
機電一：資訊概論 TEBXB1E1034 2P
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| 268 |
99-2
|
教學計畫表
|
機電二：電腦繪圖 TEBXB2E0718 0B
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