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教師資料查詢 | 教師: 吳乾埼

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學年/期 類別 單位 名稱
108-2 教學計畫表 機械系 機械系光機三：光機電工程導論 TEBAB3E3299 0R
108-2 教學計畫表 機械系 機械系精密三：光機電工程導論 TEBBB3E3299 0R
108-2 教學計畫表 機械系 機械系精密四：精密機械實驗（四） TEBBB4E3347 0A
108-2 教學計畫表 機械系 機械一碩士班：微處理機 TEBXM1E0629 0A
108-2 教學計畫表 機械系 資訊教育學門：電腦入門與程式思維 TNUOB0E3862 0B
108-1 教學研習 機械系 iClass 學習平台教室管理工作坊(第一梯次)（2019-09-23 12:10:00 ~ 13:00:00）
106-2 期刊論文 機械系 Fabrication and testing of thermoelectric CMOS-MEMS microgenerators with CNSs Film
106-2 期刊論文 機械系 Sodium chloride concentration measurement by using doping/undoping poly-silicon nanowire device
108-1 研發處: 研究計畫 (科技部) 機械系 光學3D成像量測技術
108-1 教學計畫表 機械系 機械系光機一：大學學習 TEBAB1T0863 0A
108-1 教學計畫表 機械系 全球科技學門：智慧機器人 TNUZB0S0928 0B
108-1 教學計畫表 機械系 資訊教育學門：電腦入門與程式思維 TNUOB0E3862 0B
108-1 教學計畫表 機械系 榮譽專業－工：工程數理解析 TGEHB0E3371 0A
108-1 教學計畫表 機械系 機械系精密三：應用物理學 TEBBB3E3209 0A
108-1 教學計畫表 機械系 機械系光機三：應用物理學 TEBAB3E3209 0A
107-2 教學研習 機械系 107學年度教師成長社群成果展示暨經驗分享（2019-05-29 12:00:00 ~ 14:00:00）
107-2 教學研習 機械系 「教學技巧」- 以情感喚起情感─詩詞教學的省思（2019-05-10 12:00:00 ~ 13:00:00）
107-2 會議論文 機械系 glucose concentration measurement with enzymatic modified cuvette by heterodyne interferometer
106-2 會議論文 機械系 Photoelastic modulation interferometry for noninvasive glucose sensing
106-2 會議論文 機械系 Sodium chloride concentration measurement by using doping/undoping poly-silicon nanowire device
105-1 會議論文 機械系 Glucose concentration measurement by enzymatic modification Dove prism with heterodyne interferometer
104-1 會議論文 機械系 Pitch measurement of long-range grating for optical encoder
104-1 會議論文 機械系 Grating scale evaluation of optical encoder based on commerical readheads
105-2 會議論文 機械系 Common-path laser encoder for large-pitch grating scale
106-2 會議論文 機械系 Fabrication and characterization of thermoelectric CMOS-MEMS microgenerators
106-1 會議論文 機械系 Non-focused common-path laser rotary encoder
103-1 會議論文 機械系 A simple evaluation of grating scale for linear optical encoder
101-2 會議論文 機械系 Displacement measurement based on wavelength modulation grating heterodyne interferometry
97-1 會議論文 機械系 Heterodyne displacement measurement with volume hologram as reflection type optical ruler
97-1 會議論文 機械系 Subnanometer displacement measurement using common-path grating interferometry
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