標題:Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples. | |
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學年 | 107 |
學期 | 2 |
出版(發表)日期 | 2019/05/08 |
作品名稱 | Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples. |
作品名稱(其他語言) | |
著者 | Chien-Tai Lin, Ying Chen Lee, and N. Balakrishnan |
單位 | |
出版者 | |
著錄名稱、卷期、頁數 | Computational Statistics 34(2), p.803–818 |
摘要 | We develop an user-interface package mTEXO in the Maplet application for testing exponential upper and/or lower outliers. The distributions of some well-known test statistics for exponential outliers in the literature can be easily evaluated using mTEXO, saving considerable computational time performing numerical integrations and combinatorial algebra necessary in the traditional approach. |
關鍵字 | Critical value;Discordancy test;Exponential distribution;Spacings;User interface |
語言 | 英文 |
ISSN | 1613-9658 |
期刊性質 | 國外 |
收錄於 | SCI; |
產學合作 | |
通訊作者 | |
審稿制度 | 否 |
國別 | 德國 |
公開徵稿 | |
出版型式 | ,電子版 |
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