| 標題：Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples. | |
|---|---|
| 學年 | 107 |
| 學期 | 2 |
| 出版（發表）日期 | 2019/05/08 |
| 作品名稱 | Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples. |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Chien-Tai Lin, Ying Chen Lee, and N. Balakrishnan |
| 單位 | |
| 出版者 | |
| 著錄名稱、卷期、頁數 | Computational Statistics 34(2), p.803–818 |
| 摘要 | We develop an user-interface package mTEXO in the Maplet application for testing exponential upper and/or lower outliers. The distributions of some well-known test statistics for exponential outliers in the literature can be easily evaluated using mTEXO, saving considerable computational time performing numerical integrations and combinatorial algebra necessary in the traditional approach. |
| 關鍵字 | Critical value;Discordancy test;Exponential distribution;Spacings;User interface |
| 語言 | 英文 |
| ISSN | 1613-9658 |
| 期刊性質 | 國外 |
| 收錄於 | SCI; |
| 產學合作 | |
| 通訊作者 | |
| 審稿制度 | 否 |
| 國別 | 德國 |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | ,電子版 |
| 相關連結 | |
