教師資料查詢 | 類別: 期刊論文 | 教師: 陳麗菁 Li Ching Chen (瀏覽個人網頁)

標題:Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A Modification of the Hosmer-Lemeshow Test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
學年108
學期2
出版(發表)日期2020/04/06
作品名稱Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A Modification of the Hosmer-Lemeshow Test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
作品名稱(其他語言)
著者Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數Biometrics
摘要
關鍵字
語言英文(美國)
ISSN
期刊性質國外
收錄於SCI;
產學合作
通訊作者
審稿制度
國別美國
公開徵稿
出版型式,電子版,紙本
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