一種基於測試模式特性的低功耗測試架構
學年 108
學期 1
發表日期 2019-11-08
作品名稱 一種基於測試模式特性的低功耗測試架構
作品名稱（其他語言）
著者 王嘉祥; 饒建奇
作品所屬單位
出版者
會議名稱 中華民國第二十七屆模糊理論及其應用研討會
會議地點 新北市，台灣
摘要 超大型積體電路（VLSI）技術的推進，壓縮技術使得單個晶片中存在數十億個邏輯閘。VLSI技術的快速發展給設計和測試工程師帶來了新的困難，在這些困難中，大型測試的功耗是重要的問題之一。 本文介紹了一種掃描架構，通過修改測試應用程序中的測試樣本，實現了高質量和低功耗測試。當測試樣本在每個移位中切換大量的掃描正反器，會降低電路的穩定性，造成故障驗證困難，產品良率下降和壽命縮短等，是個嚴重的問題。論文架構中解決了部分的位移功率，使用一個方法來降低掃描正反器切換次數，減少由測試樣本移入而引起的切換活動，該方法在掃描移入操作期間計算掃描正反器的切換活動，選擇合適的掃描路徑以移入測試樣本。
關鍵字 低功率消耗;切換活動;掃描移入模式;Low power;Switch activity;Scan-in pattern
語言 zh_TW
收錄於
會議性質 國內
校內研討會地點 淡水校園
研討會時間 20191108~20191109
通訊作者
國別 TWN
公開徵稿
出版型式
出處
相關連結

機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/118308 )

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