教師資料查詢 | 類別: 會議論文 | 教師: 饒建奇 Jiann-chyi Rau (瀏覽個人網頁)

標題:一種基於測試模式特性的低功耗測試架構
學年108
學期1
發表日期2019/11/08
作品名稱一種基於測試模式特性的低功耗測試架構
作品名稱(其他語言)
著者王嘉祥; 饒建奇
作品所屬單位
出版者
會議名稱中華民國第二十七屆模糊理論及其應用研討會
會議地點新北市台灣
摘要超大型積體電路(VLSI)技術的推進,壓縮技術使得單個晶片中存在數十億個邏輯閘。VLSI技術的快速發展給設計和測試工程師帶來了新的困難,在這些困難中,大型測試的功耗是重要的問題之一。
本文介紹了一種掃描架構,通過修改測試應用程序中的測試樣本,實現了高質量和低功耗測試。當測試樣本在每個移位中切換大量的掃描正反器,會降低電路的穩定性,造成故障驗證困難,產品良率下降和壽命縮短等,是個嚴重的問題。論文架構中解決了部分的位移功率,使用一個方法來降低掃描正反器切換次數,減少由測試樣本移入而引起的切換活動,該方法在掃描移入操作期間計算掃描正反器的切換活動,選擇合適的掃描路徑以移入測試樣本。
關鍵字低功率消耗;切換活動;掃描移入模式;Low power;Switch activity;Scan-in pattern
語言中文
收錄於
會議性質國內
校內研討會地點淡水校園
研討會時間20191108~20191109
通訊作者
國別中華民國
公開徵稿
出版型式
出處
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