標題:Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples | |
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學年 | 106 |
學期 | 2 |
發表日期 | 2018/07/28 |
作品名稱 | Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples |
作品名稱(其他語言) | |
著者 | Lin, C. T.; Y. C. Lee; Balakrishnan, N. |
作品所屬單位 | |
出版者 | |
會議名稱 | 2018 Joint Statistical Meetings |
會議地點 | Vancouver, Canada |
摘要 | |
關鍵字 | |
語言 | 英文(美國) |
收錄於 | |
會議性質 | 國際 |
校內研討會地點 | 無 |
研討會時間 | 20180728~20180802 |
通訊作者 | |
國別 | 美國 |
公開徵稿 | |
出版型式 | |
出處 | |
相關連結 | |
SDGs | |