教師資料查詢 | 類別: 會議論文 | 教師: 衛信文 Wei, Hsin-Wen (瀏覽個人網頁)

標題:Boosting the Performance of 3D Charge Trap NAND Flash with Asymmetric Feature Process Size Characteristic
學年105
學期2
發表日期2017/06/18
作品名稱Boosting the Performance of 3D Charge Trap NAND Flash with Asymmetric Feature Process Size Characteristic
作品名稱(其他語言)
著者Chen, Shuo Han; Chen, Yen-Ting; Wei, Hsin-Wen; Shih, Wei-Kuan
作品所屬單位
出版者
會議名稱Design Automation Conference 2017
會議地點Austin, Texas
摘要
關鍵字
語言英文(美國)
收錄於
會議性質國際
校內研討會地點
研討會時間20170618~20170622
通訊作者
國別美國
公開徵稿
出版型式
出處The proceedings of DAC 2017
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