教師資料查詢 | 類別: 會議論文 | 教師: 洪文斌 Horng Wen-bing (瀏覽個人網頁)

標題:一個簡單又快速的液晶面板瑕疵偵測之方法
學年100
學期1
發表日期2011/12/08
作品名稱一個簡單又快速的液晶面板瑕疵偵測之方法
作品名稱(其他語言)A Simple and Fast Method for Mura Defect Detection
on LCD Panels
著者陳麒遠; 洪文斌; 劉昭聖
作品所屬單位淡江大學資訊工程學系
出版者淡江大學資訊工程學系
會議名稱
會議地點
摘要在過去幾年中,薄膜液晶螢幕顯示器(TFT-LCD)的需求量遽增。自動偵測LCD面板上的瑕疵(稱為mura)在工業生產上,變成為一個非常重要課題。在本論文中,我們題出一個簡單又快速的LCD面板瑕疵偵測法。它包含有五個步驟:(1)一張LCD面板的影像首先經過高斯濾波平滑。(2)從此平滑後的影像,透過平均方式,計算模擬背景影像。(3)將平滑後的影像與模擬背景影像相減,取得差異影像。(4)將差異影像作對比延展並再執行一次高斯濾波。(5)最後,利用邊緣偵測法,例如Canny方法,即可偵測出瑕疵mura區塊。本論文所提出的瑕疵偵測法,僅用到簡單的算數運算,例如:加法、減法、乘法、還有比較等。它既簡單又快速,非常適用於在LCD面板瑕疵偵測工業自動化。
關鍵字; LCD面板檢測; 邊緣偵測; 高斯濾波; 自動光學檢測; Mura; LCD panel inspection; Edge detection; Gaussian filter; Automatic optical inspection
語言中文
收錄於
會議性質校內
校內研討會地點淡水校園
研討會時間20111208~20111209
通訊作者
國別
公開徵稿
出版型式
出處2011海峽兩岸資訊科學與資訊技術學術交流會議暨亞太大學資訊教育數位學習發展研討會論文集
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