A Novel Gated Scan-Cell Scheme for Low Capture Power (LCP) in At-Speed Testing
學年 98
學期 1
發表日期 2009-12-14
作品名稱 A Novel Gated Scan-Cell Scheme for Low Capture Power (LCP) in At-Speed Testing
作品名稱（其他語言）
著者 饒建奇
作品所屬單位 淡江大學電機工程學系
出版者
會議名稱
會議地點
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會議性質 國際
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研討會時間
通訊作者
國別
公開徵稿
出版型式
出處 Proc. of 12th International Symposium on Integrated Circuits (ISIC), Singapore
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機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/70275 )

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