| Test Slice Difference Technique for Low Power Testing | |
|---|---|
| 學年 | 97 |
| 學期 | 1 |
| 發表日期 | 2008-11-19 |
| 作品名稱 | Test Slice Difference Technique for Low Power Testing |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | 饒建奇 |
| 作品所屬單位 | 淡江大學電機工程學系 |
| 出版者 | IEEE Computer Society Test Technology Technical Council; the IEEE Computer Society Design Automation |
| 會議名稱 | |
| 會議地點 | |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | 國際 |
| 校內研討會地點 | |
| 研討會時間 | |
| 通訊作者 | |
| 國別 | |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | |
| 出處 | Proc. of IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT), Nevada |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/70571 ) |
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