| 非取樣式之Q值量測裝置與方法 | |
|---|---|
| 學年 | 95 |
| 學期 | 1 |
| 專利開始日期 | 2006-12-01 |
| 專利結束日期 | 2006-12-01 |
| 作品名稱 | 非取樣式之Q值量測裝置與方法 |
| 作品名稱（其他語言） | Apparatus and method of non-sampling-based Q-factor measuring |
| 著者 | 楊淳良; 李三良; 徐達儒 |
| 單位 | 淡江大學電機工程學系 |
| 著錄名稱、卷期、頁數 | |
| 描述 | 專利類型：發明 專利國別：中華民國 專利公開/公告號：I267632 專利申請號：094140467 國際分類號：G01J-003/00 專利權期間：20061201~20251116 |
| 摘要 | 本發明提供一種非取樣式之Q值量測裝置與方法，藉由一光功率轉換模組，將光訊號在時域上之光功率變化轉換在非時域上之領域的變化，取代複雜的取樣的機制，來量測Q值。訊號功率在時域上之變化可以轉換至光波長、光極性和光元件不同輸出埠等領域。以光波長為例，不同準位的輸入光功率變化經一功率至波長轉換模組，會反映在不同輸出光波長上的變化，再利用一分光器，將不同顏色波長的光分開，再經過一低頻的檢光器，就可以統計不同顏色光的平均光功率。藉此來得知輸入光訊號在準位1/0上光功率變化的情形，進而可以計算出Q值。 |
| 關鍵字 | |
| 語言 | zh_TW |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/53878 ) |
GoogleAnalytics