會議論文
| 學年 | 97 |
|---|---|
| 學期 | 1 |
| 發表日期 | 2008-09-08 |
| 作品名稱 | Subnanometer displacement measurement using common-path grating interferometry |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | C.C. Wu; C.C. Hsu; C.J. Chen |
| 作品所屬單位 | |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | International Conference of Precision Measurement |
| 會議地點 | Amsterdam |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | heterodyne interferometry;grating interferometer;common-path;lock-in amplifier |
| 語言 | en |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | 國際 |
| 校內研討會地點 | 無 |
| 研討會時間 | 20080908~20080912 |
| 通訊作者 | |
| 國別 | NLD |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | |
| 出處 | Proceedings of ICPM 2008 |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/116281 ) |