會議論文

學年 108
學期 1
發表日期 2019-12-14
作品名稱 Lifetime Inference for Highly Reliable Products Based on Skew-Normal Accelerated Destructive Degradation Test Model
作品名稱(其他語言)
著者 Tsai, C. C.; Lin, C. T.
作品所屬單位
出版者
會議名稱 108年中國統計學社社員大會暨統計學術研討會
會議地點 新竹市,台灣
摘要
關鍵字
語言 zh_TW
收錄於
會議性質 國內
校內研討會地點
研討會時間 20191214~20191214
通訊作者
國別 TWN
公開徵稿
出版型式
出處
相關連結

機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/123484 )