期刊論文

學年 107
學期 1
出版(發表)日期 2018-10-04
作品名稱 Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples
作品名稱(其他語言)
著者 Lin, Chien-tai
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數 Computational Statistics 34(2), p.803-818
摘要 We develop an user-interface package mTEXO in the Maplet application for testing exponential upper and/or lower outliers. The distributions of some well-known test statistics for exponential outliers in the literature can be easily evaluated using mTEXO, saving considerable computational time performing numerical integrations and combinatorial algebra necessary in the traditional approach.
關鍵字 Critical value;Discordancy test;Exponential distribution;Spacings;User interface
語言 en
ISSN 1613-9658
期刊性質 國外
收錄於 SCI
產學合作
通訊作者
審稿制度
國別 DEU
公開徵稿
出版型式 ,電子版
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機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/118819 )