期刊論文
| 學年 | 108 |
|---|---|
| 學期 | 2 |
| 出版（發表）日期 | 2020-04-06 |
| 作品名稱 | Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang |
| 單位 | |
| 出版者 | |
| 著錄名稱、卷期、頁數 | Biometrics 76(2), p.569-571 |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en_US |
| ISSN | |
| 期刊性質 | 國外 |
| 收錄於 | SCI |
| 產學合作 | |
| 通訊作者 | |
| 審稿制度 | 是 |
| 國別 | USA |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | ,電子版,紙本 |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/118192 ) |