期刊論文

標題 Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
學年 108
學期 2
出版(發表)日期 2020/04/06
作品名稱 Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
作品名稱(其他語言)
著者 Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數 Biometrics 76(2), p.569-571
摘要
關鍵字
語言 英文(美國)
ISSN
期刊性質 國外
收錄於 SCI;
產學合作
通訊作者
審稿制度
國別 美國
公開徵稿
出版型式 ,電子版,紙本