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標題
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Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow |
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學年
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108 |
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學期
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2 |
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出版（發表）日期
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2020/04/06 |
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作品名稱
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Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow |
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作品名稱（其他語言）
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著者
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Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang |
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單位
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出版者
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著錄名稱、卷期、頁數
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Biometrics 76(2), p.569-571 |
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摘要
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關鍵字
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語言
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英文(美國) |
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ISSN
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期刊性質
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國外 |
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收錄於
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SCI; |
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產學合作
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通訊作者
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審稿制度
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是 |
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國別
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美國 |
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公開徵稿
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出版型式
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,電子版,紙本 |