標題
|
Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow |
學年
|
108 |
學期
|
2 |
出版(發表)日期
|
2020/04/06 |
作品名稱
|
Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow |
作品名稱(其他語言)
|
|
著者
|
Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang |
單位
|
|
出版者
|
|
著錄名稱、卷期、頁數
|
Biometrics 76(2), p.569-571 |
摘要
|
|
關鍵字
|
|
語言
|
英文(美國) |
ISSN
|
|
期刊性質
|
國外 |
收錄於
|
SCI; |
產學合作
|
|
通訊作者
|
|
審稿制度
|
是 |
國別
|
美國 |
公開徵稿
|
|
出版型式
|
,電子版,紙本 |