研發處: 研究計畫 (科技部)

標題 同步輻射掃描穿透X光顯微技術結合臨場表面光譜/電性物理系統探討奈米表面結構缺陷特徵 3.0
學年 108
學期 1
計畫案開始日期 2019/08/01
計畫案結束日期 2020/07/31
計畫主持人姓名 薛宏中
共同主持人姓名一 葉炳宏
共同主持人姓名二 莊程豪
共同主持人姓名三 董崇禮
計畫中文名稱 物理系所研究特色發展計畫-整合先進光譜技術與第一原理理論研究可變電阻式記憶體(ReRAM)材料-物理系所研究特色發展計畫-整合先進光譜技術與第一原理理論研究可變電阻式記憶體(ReRAM)材料(1/2)