研究獎勵

學年 106
學期 1
申請日期 2017-08-01
得獎人員 蔡宗儒 TZONG-RU TSAI
得獎論文名稱 Optimal two-variable accelerated degradation test plan for gamma degradation process
得獎等級 0
所屬類別 0
出版者 IEEE Transactions on Reliability 65(1), p.459-468
研究獎勵類別 5
備註
發表日期 2016-01-01