會議論文
| 學年 | 102 |
|---|---|
| 學期 | 2 |
| 發表日期 | 2014-06-15 |
| 作品名稱 | Sensitivity analysis of sample allocation and measurement frequency under a degradation test with Gamma process |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | J-Y Chiang; W-Y Sung; T-R Tsai; YL Lio |
| 作品所屬單位 | 統計學系暨研究所 |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | Ninth International Conference on Innovative Computing Information and Control |
| 會議地點 | Busan, Korea |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | zh_TW |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | |
| 校內研討會地點 | |
| 研討會時間 | 2014/06/15~2014/06/18 |
| 通訊作者 | |
| 國別 | |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | |
| 出處 | |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/98798 ) |