會議論文

標題 Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility
學年 83
學期 1
發表日期 1994/11/16
作品名稱 Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility
作品名稱(其他語言)
著者 張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang
作品所屬單位 淡江大學資訊管理學系
出版者 IEEE學會期刊--計算機與數位技術
會議名稱 the third Asian test symposium
會議地點 Nara, Japan
摘要
關鍵字
語言 英文
收錄於
會議性質 國際
校內研討會地點
研討會時間 19941116~19941116
通訊作者
國別 日本
公開徵稿
出版型式
出處 Proceedings of the third Asian test symposium, pp.330-335