研究報告
| 學年 | 82 |
|---|---|
| 學期 | 1 |
| 出版（發表）日期 | 1994-01-01 |
| 作品名稱 | (小角度入射)X光吸收光譜對Si-Co與Si/Co/al界面研究 |
| 作品名稱（其他語言） | Study of Si-Co System and Si/Co/Al Interface Using XAFS and Glancing- Incidence EXAFS |
| 著者 | 彭維鋒; 鄭伯昆 |
| 單位 | 淡江大學物理學系 |
| 描述 | 計畫編號：NSC83-0208-M032-012 研究期間：199308~199412 研究經費：818,000 |
| 委託單位 | 行政院國家科學委員會 |
| 摘要 | 利用同步輻射光源,以Ｘ光吸收細微結構( XAFS)與小角度延伸Ｘ光吸收細微結構 (Glancing- incidence EXAFS)對Si-Co與Si-Co-Al系統研究.主要研究 課題是了解不同物質其界面間之電子能態結構 及界面間之原子結構.同時,我們欲在淡大物理 系建立一套小型分子磊晶(Mini molecular beam epitaxy)樣品長成系統. |
| 關鍵字 | 吸收光譜;界面;Ｘ光;Absorption Spectrum;Interface;X ray |
| 語言 | |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/5235 ) |