期刊論文

標題 Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility
學年 83
學期 1
出版(發表)日期 1995/01/01
作品名稱 Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility
作品名稱(其他語言)
著者 張昭憲; Chang, Jau-shien; Lin, Chen-shang
單位 淡江大學資訊管理學系
出版者 Institution of Engineering and Technology (IET)
著錄名稱、卷期、頁數 IEE proceedings. Computers and Digital Techniques 142(1), pp.41-48
摘要
關鍵字
語言 英文
ISSN 1350-2387
期刊性質 國外
收錄於
產學合作
通訊作者
審稿制度
國別 英國
公開徵稿
出版型式 ,電子版