關鍵字查詢 | 類別:會議論文 | | 關鍵字:一種基於測試模式特性的低功耗測試架構

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1 108/1 電機系 饒建奇 副教授 會議論文 發佈 一種基於測試模式特性的低功耗測試架構 , [108-1] :一種基於測試模式特性的低功耗測試架構會議論文一種基於測試模式特性的低功耗測試架構王嘉祥; 饒建奇低功率消耗;切換活動;掃描移入模式;Low power;Switch activity;Scan-in pattern超大型積體電路(VLSI)技術的推進,壓縮技術使得單個晶片中存在數十億個邏輯閘。VLSI技術的快速發展給設計和測試工程師帶來了新的困難,在這些困難中,大型測試的功耗是重要的問題之一。 本文介紹了一種掃描架構,通過修改測試應用程序中的測試樣本,實現了高質量和低功耗測試。當測試樣本在每個移位中切換大量的掃描正反器,會降低電路的穩定性,造成故障驗證困難,產品良率下降和壽命縮短等,是個嚴重的問題。論文架構中解決了部分的位移功率,使用一個方法來降低掃描正反器切換次數,減少由測試樣本移入而引起的切換活動,該方法在掃描移入操作期間計算掃描正反器的切換活動,選擇合適的掃描路徑以移入測試樣本。zh_TW國內淡水校園20191108~20191109是TWN中華民國第二十七屆模糊理論及其應用研討會新北市,台灣
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