關鍵字查詢 | 類別:會議論文 | 作品名稱 | 關鍵字:Reconfigurable multiple scan-chains for reducing test application time of SOCs

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1 93/2 電機系 饒建奇 副教授 會議論文 發佈 Reconfigurable multiple scan-chains for reducing test application time of SOCs , [93-2] 作品名稱:Reconfigurable multiple scan-chains for reducing test application time of SOCs
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