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序號 學年期 教師動態
1 96/2 管科系 牛涵錚 教授 期刊論文 發佈 Increasing Detectability in Semiconductor Foundry by Multivariate Statistical Process Control , [96-2] 關鍵字:statistical process control (SPC), advance process control (APC), fault detection and classification (FDC), Hotelling T2 , principal component analysis (PCA), semiconductor industry
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