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標題:Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples
學年107
學期1
出版(發表)日期2018/10/04
作品名稱Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples
作品名稱(其他語言)
著者Chien-Tai Lin; Ying-Chen Lee; Narayanaswamy Balakrishnan
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數Computational Statistics
摘要We develop an user-interface package mTEXO in the Maplet application for testing exponential upper and/or lower outliers. The distributions of some well-known test statistics for exponential outliers in the literature can be easily evaluated using mTEXO, saving considerable computational time performing numerical integrations and combinatorial algebra necessary in the traditional approach.
關鍵字Critical value;Discordancy test;Exponential distribution;Spacings;User interface
語言英文(美國)
ISSN
期刊性質國外
收錄於SCI;
產學合作國外;
通訊作者Chien-Tai Lin
審稿制度
國別美國
公開徵稿
出版型式,電子版
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