| Empirical Bayesian Strategy for Sampling Plans with Warranty under Truncated Censoring | |
|---|---|
| 學年 | 105 |
| 學期 | 1 |
| 發表日期 | 2016-08-04 |
| 作品名稱 | Empirical Bayesian Strategy for Sampling Plans with Warranty under Truncated Censoring |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Tsai, Tzong-Ru; Lio, Y. L.; Chiang, Jyun-You |
| 作品所屬單位 | |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | 22nd ISSAT International Conference on Reliability and Quality in Design |
| 會議地點 | Los Angeles, USA |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en_US |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | 國際 |
| 校內研討會地點 | 無 |
| 研討會時間 | 20160804~20160806 |
| 通訊作者 | |
| 國別 | USA |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | |
| 出處 | Proceedings of the 22nd ISSAT International Conference on Reliability and Quality in Design |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/107576 ) |
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