Sensitivity analysis of sample allocation and measurement frequency under a degradation test with Gamma process
學年 102
學期 2
發表日期 2014-06-15
作品名稱 Sensitivity analysis of sample allocation and measurement frequency under a degradation test with Gamma process
作品名稱（其他語言）
著者 J-Y Chiang; W-Y Sung; T-R Tsai; YL Lio
作品所屬單位 統計學系暨研究所
出版者
會議名稱 Ninth International Conference on Innovative Computing Information and Control
會議地點 Busan, Korea
摘要
關鍵字
語言 zh_TW
收錄於
會議性質
校內研討會地點
研討會時間 2014/06/15~2014/06/18
通訊作者
國別
公開徵稿
出版型式
出處
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機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/98798 )

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