教師資料查詢 | 類別: 會議論文 | 教師: 蔡宗儒 TZONG-RU TSAI (瀏覽個人網頁)

標題:Sensitivity analysis of sample allocation and measurement frequency under a degradation test with Gamma process
學年102
學期2
發表日期2014/06/15
作品名稱Sensitivity analysis of sample allocation and measurement frequency under a degradation test with Gamma process
作品名稱(其他語言)
著者J-Y Chiang; W-Y Sung; T-R Tsai; YL Lio
作品所屬單位統計學系暨研究所
出版者
會議名稱Ninth International Conference on Innovative Computing Information and Control
會議地點Busan, Korea
摘要
關鍵字
語言中文
收錄於
會議性質
校內研討會地點
研討會時間2014/06/15~2014/06/18
通訊作者
國別
公開徵稿
出版型式
出處
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