期刊論文
| 學年 | 113 |
|---|---|
| 學期 | 1 |
| 出版（發表）日期 | 2024-11-09 |
| 作品名稱 | Optimal experimental plan for multi-level stress testing with log-location-scale regression under progressive Type-II censoring. |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Lin, C. T.*, Li, Y. W., Chen, Z. W. and Bhattacharya, R. |
| 單位 | |
| 出版者 | |
| 著錄名稱、卷期、頁數 | Quality Technology & Quantitative Management |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en_US |
| ISSN | |
| 期刊性質 | 國外 |
| 收錄於 | SCI |
| 產學合作 | |
| 通訊作者 | Chien-Tai Lin |
| 審稿制度 | 0 |
| 國別 | USA |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | ,電子版,紙本 |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/126619 ) |